[工學]논리회로 test(실험) - IC패키지 test(실험)
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작성일 22-09-21 19:23
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[工學]논리회로 test(실험) - IC패키지 test(실험)
1. 實驗(실험) 목적
AND Gate, OR Gate, NAND Gate, NOR Gate의 IC패키지 코드를 알아내고 이에 LED를 연결하여 입력에 따른 출력을 알아본다.
2-입력 AND 게이트 동작에서, A와 B가 모두 HIGH(1)이면 X는 HIGH(1)가 되고, A또는 B가 LOW(0)이거나, A와 B가 모두 LOW(0)이면, X는 LOW(0)가 된다
AND 게이트에 대한 논리식
2-입력 AND 게이트의 연산은 다음과 같은 식으로 표현된다 두 입력 변수를 각각 A, B라 하고 출력 변수를 X라 하면, 부울식은 다음과 같다.
A, BX0, 000, 111, xxx, 11 OR Gate 또는 2-Input OR 게이트에 대한 진리표
OR 게이트는 입력 중 어느 하나라도 HIGH(1)가 되면 출력은 HIGH(1)가 되고, 입력이 모두 LOW(0)일 때만 축력은 LOW(0)가 된다 따라서 OR 게이트는 하나 또는 그 이상의 입력이 HIGH(1)인 경우에 출력 신호를 HIGH(1)로 만들기 위한 목적으로 사용된다 위에 있는 그림의 2-입력 OR 게이트의 입력을 각각 A와 B, 출력을 X라고 하면, OR 게이트의 동작은 다음과 같이 설명(說明)된다
2-입력 OR 게이트 동작에서, 입력 A 혹은 입력 B가 HIGH(1)이거나…(To be continued )
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다.
2. data(자료) 조사
A, BX0, 000, 101, 001, 11 AND Gate 또는 2-Input AND 게이트에 대한 진리표
AND 게이트는 모든 입력이 HIGH(1)일 때만 출력이 HIGH(1)로 되고, 한 개의 입력이라도 LOW(0)이면 출력은 LOW(0)로 된다 따라서 AND 게이트는 어떤 조건들이 동시에 참인 경우(즉 모든 입력이 HIGH(1) 레벨일 때)에 출력 신호를 HIGH(1)로 만들기 위한 목적으로 사용된다 위에 있는 그림의 2-입력 AND게이트에서 입력을 A와 B, 출력을 X로 표시할 때 게이트의 동작은 다음과 같다.
